[1] Z. Dong, W. Wang, B. Huang, X. Zhang, N. Guan, and H. Chen, Chin. Opt. Lett. 9, 082301 (2011).
[2] P. Cappelletti, Microelectron. Reliab. 38, 185 (1998).
[3] C. L. Heng and T. G. Finstad, Phys. E 26, 386 (2005).
[4] P. Schnittenhelm, M. Gail, J. Brunner, J. F. Nutzel, and G. Abstreiter, Appl. Phys. Lett. 67, 1292 (1995).
[5] S. A. Chaparro, Y. Zhang, and J. Drucker, Appl. Phys. Lett. 76, 3534 (2000).
[6] A. A. Shklyaev, M. Shibata, and M. Ichikawa, Phys. Rev. B 62, 1540 (2000).
[7] A. I. Nikiforov, V. V. Ulyanov, O. P. Pchelyakov, S. A. Teys, and A. K. Gutakovsky, Mat. Sci. Semicon. Proc. 8, 47 (2005).
[8] R. P. U. Karunasiri, R. Bruinsma, and J. Rudnick, Phys. Rev. Lett. 62, 788 (1989).
[9] J. L. Liu, J. Wan, Z. M. Jiang, A. Khitun, and K. L. Wang, J. Appl. Phys 92, 6804 (2002).
[10] A. R. Samavati, Z. Othaman, S. K. Ghoshal, M. R. Dousti, and R. J. Amjad, Chin. Phys. Lett. 29, 118101 (2012).
[11] A. V. Kolobov, A. A. Shklyaev, H. Oyanagi, P. Fons, S. Yamasaki, and M. Ichikawa, Appl. Phys. Lett. 78, 2563 (2001).
[12] C. Jing, J. Hou, and X. Xu, Opt. Mater. 30, 857 (2008).
[13] Y. Wang, X. Peng, J. Shi, X. Tang, J. Jiang, and W. Liu, Nanoscale Res. Lett. 7, 86 (2012).
[14] J. Giri, S. Thakurta, J. Bellare, A. K. Nigam, and D. Bahadur, J. Magn. Magn. Mater. 293, 62 (2005).
[15] S. Takeoka, M. Fujii, S. Hayashi, and K. Yamamoto, Phys. Rev. B 58, 7921 (1998).
[16] D. D. Chambliss and K. E. Johnson, Phys. Rev. B 50, 5012 (1994).
[17] M. Zinke-Allmang, Thin Solid Films 346, 1 (1999).
[18] A. R. Samavati, Z. Othaman, S. K. Ghoshal, M. Dousti, and M. R. Kadir, Int. J. Mol. Sci. 13, 12880 (2012).
[19] H. Nishikawa, J. H. Stathis, and E. Cartier, Appl. Phys. Lett. 75, 1219 (1999).
[20] G. Kartopu, V. A. Karavanskii, U. Serincan, R. Turan, R. E. Hummel, Y. Ekinci, A. Gunnaes, and T. G. Finstad, Phys. Stat. Sol. A 202, 1472 (2005).
[21] P. K. Giri and S. Dhara, J. Nanomaterials 2012, 1 (2011).
[22] A. Wellner, V. Paillard, C. Bonafos, H. Coffin, A. Claverie, B. Schmidt, and K. H. Heining, J. Appl. Phys. 94, 5639 (2003).
[23] P. M. Fauchett and I. H. Campbell, Crit. Rev. Solid State Mater. 14, S14 (1988).
[24] J. G. Hernandez, G. H. Azarbayejani, R. Tsu, and F. H. Pollak, Appl. Phys. Lett. 47, 1350 (1985).
[25] C. E. Bottani, C. Mantini, P. Milani, M. Manfredini, A. Stella, P. Tognini, P. Cheyssac, and R. Kofman, Appl. Phys. Lett. 69, 2409 (1996).
[26] M. Fujii, S. Hayashi, and K. Yamamoto, Jpn. J. Appl. Phys. 30, 687 (1991).