[1] B. C. Gao, K. Meyer, P. Yang. IEEE Trans. Geosci. Remote Sens., 42, 1891(2004).
[2] S. Tessarin, M. Lynch, J. F. Donegan, G. Maze. Electron. Lett., 41, 899(2005).
[3] X. Liu, H. Huang, D. Shen, X. Liu, J. Zhang, D. Tang. Chin. Opt. Let., 12, 021404(2014).
[7] X. Zou, Y. Leng, Y. Li, Y. Feng, P. Zhang, Y. Hang, J. Wang. Chin. Opt. Let., 13, 081405(2015).
[9] Y. Duan, H. Zhu, Y. Ye, D. Zhang, G. Zhang, D. Tang. Opt. Let., 39, 1314(2014).
[12] C. Kieleck, A. Berrou, B. Donelan, B. Cadier, T. Robin, M. Eichhorn. Opt. Let., 40, 1101(2015).
[13] C. Y. Cho, Y. C. Chen, Y. P. Huang, K. W. Su, Y. F. Chen. Opt. Express, 22, 7625(2014).
[15] X. Li. Chin. Opt. Let., 14, 021404(2016).
[16] M. Murtagh, J. Lin, R. P. Mildren, G. Mcconnell, D. J. Spence. Opt. Express, 23, 15504(2015).
[18] X. Guo, J. Lu, W. Li, Y. Xu, X. Lu, Y. Leng, R. Li. Opt. Laser Technol., 67, 8(2015).
[19] N. Takei, S. Suzuki, F. Kannari. Appl. Phys. B, 74, 521(2002).
[21] A. Sabella, J. A. Piper, R. P. Mildren. Opt. Let., 39, 4037(2014).