[1] R. G. Forbes, Solid-State Electron. 45, 779 (2001).

[2] Z. Fan, B. Zhang, N. Yao, L. Zhang, H. Ma, and J. Deng, Chin. Opt. Lett. 4, 303 (2006).

[3] T. Chen, Z. Sun, P. Guo, L. Wang, and S. Huang, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 26, 777 (2006).

[4] B. Xie, B. Chen, H. Song, G. Yuan, Y. Gong, and Q. Ni, Acta Opt. Sin. (in Chinese) 24, 1434 (2004).

[5] N. G. Shang, F. C. K. Au, X. M. Meng, C. S. Lee, I. Bello, and S. T. Lee, Chem. Phys. Lett. 358, 187 (2002).

[6] S. K. Srivastava, A. K. Shukla, V. D. Vankar, and V. Kumar, Thin Solid Films 492, 124 (2005).

[7] J. J. Wang, M. Y. Zhu, R. A. Outlaw, X. Zhao, D. M. Manos, and B. C. Holloway, Appl. Phys. Lett. 85, 1265 (2004).

[8] S. Wang, J. Wang, P. Miraldo, M. Zhu, R. Outlaw, K. Hou, X. Zhao, B. C. Holloway, and D. Manos, Appl. Phys. Lett. 89, 183103 (2006).

[9] F. A. M. Koeck, A. N. Obraztsov, and R. J. Nemanich, Diam. Relat. Mater. 15, 875 (2006).

[10] J. Wang and T. Ito, Diam. Relat. Mater. 14, 1469 (2005).

[11] R. J. Nemanich and S. A. Solin, Phys. Rev. B 20, 392 (1979).

[12] J. Deng, L. Zhang, B. Zhang, and N. Yao, Thin Solid Films 516, 7685 (2008).