Control of amorphous solid water target morphology induced by deposition on a charged surface

Alexander Bespaly; Indranuj Dey; Jenya Papeer; Assaf Shaham; Pavel Komm; Ibrahim Hadad; Gilad Marcus; Arie Zigler

doi:10.1017/hpl.2021.24

[1] E. N. Nerush, I. Y. Kostyukov, L. Ji, A. Pukhov. Phys. Plasmas, 21, 013109(2014).

[2] L. T. Hudson, J. F. Seely. Radiat. Phys. Chem., 79, 132(2010).

[3] M. Galletti, F. G. Bisesto, M. P. Anania, M. Ferrario, R. Pompili, A. Poyé, A. Zigler. Opt. Lett., 45, 4420(2020).

[4] H. Schwoerer, S. Pfotenhauer, O. Jäckel, K.-U. Amthor, B. Liesfeld, W. Ziegler, R. Sauerbrey, K. W. D. Ledingham, T. Esirkepov. Nature, 439, 445(2006).

[5] M. Bailly-Grandvaux, D. Kawahito, C. McGuffey, J. Strehlow, B. Edghill, M. S. Wei, N. Alexander, A. Haid, C. Brabetz, V. Bagnoud, R. Hollinger, M. G. Capeluto, J. J. Rocca, F. N. Beg. Phys. Rev. E, 102, 021201(2020).

[6] J. Osterhoff, A. Popp, Z. Major, B. Marx, T. P. Rowlands-Rees, M. Fuchs, M. Geissler, R. Hörlein, B. Hidding, S. Becker, E. A. Peralta, U. Schramm, F. Grüner, D. Habs, F. Krausz, S. M. Hooker, S. Karsch. Phys. Rev. Lett., 101, 085002(2008).

[7] S. C. Wilks, A. B. Langdon, T. E. Cowan, M. Roth, M. Singh, S. Hatchett, M. H. Key, D. Pennington, A. MacKinnon, R. A. Snavely. Phys. Plasmas, 8, 542(2001).

[8] S. V. Bulanov, E. Yu. Echkina, T. Zh. Esirkepov, I. N. Inovenkov, M. Kando, F. Pegoraro, G. Korn. Phys. Rev. Lett., 104, 135003(2010).

[9] F. Fiuza, A. Stockem, E. Boella, R. A. Fonseca, L. O. Silva, D. Haberberger, S. Tochitsky, W. B. Mori, C. Joshi. Phys. Plasmas, 20, 056304(2013).

[10] J. L. Henares, P. Puyuelo-Valdes, F. Hannachi, T. Ceccotti, M. Ehret, F. Gobet, L. Lancia, J.-R. Marquès, J. J. Santos, M. Versteegen, M. Tarisien. Rev. Sci. Instrum, 90, 063302(2019).

[11] I. Prencipe, A. Sgattoni, D. Dellasega, L. Fedeli, L. Cialfi, W. Choi, I. J. Kim, K. A. Janulewicz, K. F. Kakolee, H. W. Lee. Plasma Phys. Control. Fusion, 58, 034019(2016).

[12] T. Ebert, N. W. Neumann, T. Abel, G. Schaumann, M. Roth. High Power Laser Sci. Eng., 5(2017).

[13] A. Zigler, S. Eisenman, M. Botton, E. Nahum, E. Schleifer, A. Bespaly, I. Pomerantz, F. Abicht, J. Branzel, G. Priebe, S. Steinke, A. Andreev, M. Schnuerer, W. Sandner, D. Gordon, P. Sprangle, K. W. D. Ledingham. Phys. Rev. Lett, 110, 215004(2013).

[14] E. Schleifer, E. Nahum, M. Botton, Z. Henis, A. Zigler. J. Phys. D, 48, 085502(2015).

[15] A. Zigler, T. Palchan, N. Bruner, E. Schleifer, S. Eisenmann, M. Botton, Z. Henis, S. A. Pikuz, A. Y. Faenov, D. Gordon, P. Sprangle. Phys. Rev. Lett, 106, 134801(2011).

[16] R. Smoluchowski. Science, 201, 809(1978).

[17] R. Yokochi, U. Marboeuf, E. Quirico, B. Schmitt. Icarus, 218, 760(2012).

[18] A. Bar-Nun, I. Kleinfeld, E. Kochavi. Phys. Rev. B, 38, 7749(1988).

[19] T. Loerting, W. Schustereder, K. Winkel, C. G. Salzmann, I. Kohl, E. Mayer. Phys. Rev. Lett., 96(2006).

[20] G. A. Kimmel, K. P. Stevenson, Z. Dohnálek, R. S. Smith, B. D. Kay. J. Chem. Phys., 114, 5284(2001).

[21] S. Fakhfakh, O. Jbara, M. Belhaj, Z. Fakhfakh, A. Kallel, E. I. Rau. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B, 197, 114(2002).

[22] J. H. E. Cartwright, B. Escribano, C. I. Sainz-Díaz. Thin Solid Films, 518, 3422(2010).

[23] K. Kanaya, N. Ichise, K. Adachi, K. Yonehara, Y. Muranaka. Micron Microsc. Acta, 23, 319(1992).

[24] J. Cazaux. J. Microsc., 217, 16(2005).

[25] X. Zhu, Q. Yuan, Y. P. Zhao. Nanoscale, 6, 5432(2014).

[26] R. Sagi, M. Akerman, S. Ramakrishnan, M. Asscher. J. Phys. Chem. C, 122, 9985(2018).

[27] R. F. Egerton. Physical Principles of Electron Microscopy(2016).